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フローティングゲートMOSFET - 版の履歴
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<p><b>新規ページ</b></p><div>'''フローティングゲートMOSFET'''（Floating-Gate MOSFET、FGMOS）は、通常の[[MOSFET]]と似た構造を持つ[[電界効果トランジスタ]]です。<br />
<br />
フローティングゲートMOSFETは、[[酸化絶縁膜]]で挟まれた[[フローティングゲート]]を有します。<br />
<br />
FGMOSではゲートが電気的に[[絶縁]]されており[[直流]]での[[浮遊ノード]]を作ります。多くの第2ゲートやインプットが浮遊ゲート (FG)の上に堆積され電気的に絶縁されています。これらのインプットはFGと[[容量結合]]しています。FGは[[電気抵抗]]の大きな物質に完全に囲まれているため、FGに蓄えられている[[電荷量]]は長期間変わらない。<br />
<br />
FG中の電荷量を変更するために、[[Fowler-Nordheimトンネル効果]]や[[ホットキャリア注入]]が通常用いられます。FGMOSの応用として、[[EPROM]]、[[EEPROM]]、[[フラッシュメモリ]]での[[デジタル記憶素子]]、[[ニューラルネットワーク]]での[[ニューラル計算素子]]、[[アナログ記憶素子]]、[[デジタルポテンショメータ]]、[[シングルトランジスタD/Aコンバータ]]などがあります。<br />
<br />
最初の浮遊ゲートMOSFETは1967年にKahngとSzeによって報告されました。<br />
<br />
なお、FGMOSは書き込まれた内容を約10年から20年保持するとされています。また、読み出し回数に制限はありません。</div>
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